用于基于单元集成电路热测试的智能温度传感器

本文提出了一种简单高效的内置温度传感器，用于标准单元基于 VLSI 电路的热监控。该智能温度传感器采用由复杂门而非反相器构成的环形振荡器，以优化其线性度。来自 0.18$\mu$m CMOS 工艺的仿真结果表明，当选择一组合适的标准逻辑门时，传感器的非线性误差可以降低。