含噪声的线性反问题采样
偏微分方程分析
2021-11-22 v2
摘要
我们研究加性噪声对与微分同胚正则关系相关联的 FIO 反演的影响。我们利用微局部缺陷测度来度量噪声的功率谱，并分析该功率谱在反演下如何变换。特别地，我们将反演所加噪声的标准差计算为数据所加噪声标准差的函数。作为示例，我们研究了平面中平行与扇束坐标下的 Radon 变换，并给出了数值例子。
引用
@article{arxiv.2011.13489,
title = {Sampling linear inverse problems with noise},
author = {Plamen Stefanov and Samy Tindel},
journal= {arXiv preprint arXiv:2011.13489},
year = {2021}
}