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用于扫描离子显微镜应用的铷和铯离子诱导的电子和离子信号

仪器与探测器 2024-03-11 v1

摘要

通过离子诱导的电子和离子产额,研究了基于超冷铷(Rb)和铯(Cs)原子的新型聚焦离子束(FIB)系统的扫描离子显微镜应用。将Rb+^+和Cs+^+ FIB系统上测量的结果与商用镓(Ga+^+)系统的结果进行比较,以验证将Rb+^+和Cs+^+用于成像的优点。比较表明,在各种纯元素靶材上,Rb+^+和Cs+^+的二次电子(SE)产额高于Ga+^+,这意味着在SE成像中,使用Rb+^+/Cs+^+比使用Ga+^+在相同剂量下可以获得更高的信噪比。此外,对离子诱导的离子信号的分析表明,二次离子主导了Cs+^+诱导的离子信号,而Rb+^+/Ga+^+诱导的信号包含更多的背散射离子。

关键词

引用

@article{arxiv.2403.05460,
  title  = {Rubidium and cesium ion-induced electron and ion signals for scanning ion microscopy applications},
  author = {Y. Li and S. Xu and T. H. Loeber and E. J. D. Vredenbregt},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2403.05460},
  year   = {2024}
}