重新审视晶体中缺陷的拓扑分类
数学物理
2021-06-15 v1 材料科学
math.MP
摘要
我们引入了一种缺陷拓扑分类的一般理论。我们阐明了来自代数拓扑的工具（包括同伦与同调群）在缺陷分类中的应用，并给出了 、、二维圆柱、二维环面以及二维环面上的若干显式计算实例。我们提出了一组物理驱动的假设，以论证分类过程的合理性，并揭示所考虑方法（尤其对晶体晶格）中某些固有的不一致性。
引用
@article{arxiv.2106.06699,
title = {Revisiting the topological classification of defects in crystals},
author = {Nivedita and Anurag Gupta},
journal= {arXiv preprint arXiv:2106.06699},
year = {2021}
}