通过 XPS 中的俄歇参数分析解析钙钛矿的氧化态与 Sn-卤化物相互作用
材料科学
2022-07-29 v1
摘要
利用 XPS 对 Sn 半导体进行可靠化学态分析受限于 Sn 3d 区域观测到的微小位移。特别是对于杂化 Sn 基钙钛矿，电荷参考带来的误差很容易超过与化学相关的位移。基于修正俄歇参数 的研究提供了合适的替代方案，并曾用于分辨 Sn 合金和氧化物中的不同化学态。然而，要对 Sn 基钙钛矿半导体上俄歇参数变化作出有意义的解读，需要基础研究。本工作中，我们通过 Sn 卤化物钙钛矿组成的系统变化进行了全面的俄歇参数研究。我们发现除氧化态外， 对卤位组成高度敏感，在 ASnI 与 ASnBr 型钙钛矿间引起高达 的位移。所报道的 对 Sn 氧化态、配位和局域化学的依赖关系提供了一个框架，可可靠追踪 Sn 基钙钛矿及相关化合物的降解以及 X 位相互作用。此类研究更高的稳健性与灵敏度不仅支持比以往更深入的 Sn 基钙钛矿表面分析，也提升了跨实验室的可重复性。
引用
@article{arxiv.2207.14123,
title = {Resolving oxidation states and Sn-halide interactions of perovskites through Auger parameter analysis in XPS},
author = {Alexander Wieczorek and Huagui Lai and Johnpaul Pious and Fan Fu and Sebastian Siol},
journal= {arXiv preprint arXiv:2207.14123},
year = {2022}
}