利用紫外光去除高压引起的表面电荷

从精确物理到量子信息的诸多研究将离子、高激发态中性原子或极性分子作为工具使用。在小型化、可扩展性和可控性需求的驱动下，这些粒子常被捕获于印有电极的介电表面附近。然而，这种几何结构使粒子易受有害表面电荷的影响。为理解施加于电极的高压如何介导电荷的积累，我们在超高真空中使用扫描开尔文探针研究了具有微结构电极阵列的静电分子陷阱的电势分布。我们发现，对电极施加电压后表面带正电，导致整个表面出现电势偏移与斑块电势。我们展示了使用紫外光去除这些电荷的过程，并详细研究了该过程的动力学，包括对光强、波长和样品类型的依赖关系。我们发现，较短的紫外波长能更快地去除电荷，额外的聚合物涂层可进一步增强这一效果。我们的发现可能对涉及电场敏感粒子的广泛实验有所助益。