Jain 序列$\nu =p/(2np+1)$处边缘态间多准粒子隧穿的相关性

我们对 Jain 序列$\nu=p/(2np+1)$中边缘态之间点接触处的隧穿电导和噪声的反常行为提出了解释，该行为出现在极弱背散射和低温条件下 [Y.C. Chung, M. Heiblum, and V. Umansky, Phys. Rev. Lett. {\bf{91}}, 216804 (2003)]。我们考虑了以有限速度传播的中性模边缘态，并表明其动力学的激活导致了电导温度幂律的意外变化。更为重要的是，我们证明了在低能下多准粒子隧穿成为最相关的过程。这一结果将用于解释关于电流噪声的实验数据，其中隧穿粒子的电荷可达单个准粒子电荷的$p$倍。在本文中，我们分析了电导和散粒噪声，以定量证实所提出的情景。