分数量子霍尔边缘态中的电荷隧穿
介观与纳米尺度物理
2010-08-31 v1
摘要
我们解释了最近关于在弱背散射区域中通过量子点接触隧穿的边缘态有效电荷的实验观测。我们重点关注过量噪声以及有效隧穿电荷随温度和电压变化的特性。通过引入一个最小层次模型，Jain序列中不同的填充因子ν=p/(2p+1)被同等对待，同时考虑了非普适相互作用。对于ν=2/3和ν=2/5，与实验发现的一致性强化了低能下准粒子束隧穿的描述，并定量定义了预期测量到基本准粒子电荷的条件。我们提出高阶电流累积量测量，以交叉检验上述场景的有效性，并更清晰地阐明实验中测量的有效电荷的独特温度行为。
引用
@article{arxiv.1006.3157,
title = {Charge tunneling in fractional edge channels},
author = {Dario Ferraro and Alessandro Braggio and Nicodemo Magnoli and Maura Sassetti},
journal= {arXiv preprint arXiv:1006.3157},
year = {2010}
}
备注
6 pages, 3 figures