Mott神经元的弛豫
材料科学
2018-11-07 v1
摘要
我们考虑电致Mott转变（EMT）现象，即一种电诱导的绝缘体到金属转变。实验观察到，根据电激发大小的不同，最终态可能表现出短寿命或长寿命的电阻变化。我们扩展了先前的EMT模型，通过弹性能量项纳入局域结构畸变的影响。我们发现，通过强电脉冲，所诱导的亚稳相可通过电-弹性效应进一步稳定。我们通过数值模拟对模型进行了系统研究，并将结果与AM4Q8族Mott绝缘体中的新实验进行比较。我们的工作显著扩展了最近引入的漏积分-发放Mott神经元[P. Stoliar Adv Mat 2017]的范围，以揭示其弛豫物理机制的新见解。这是未来神经形态电路实现的一个关键特征。
引用
@article{arxiv.1711.05206,
title = {Relaxation of a Mott-neuron},
author = {Federico Tesler and Coline Adda and Julien Tranchant and Benoit Corraze and Etienne Janod and Laurent Cario and Pablo Stoliar and Marcelo Rozenberg},
journal= {arXiv preprint arXiv:1711.05206},
year = {2018}
}