非晶硅拉曼谱与结构之间的关系
凝聚态物理
2007-05-23 v1
摘要
1985年，Beeman、Tsu和Thorpe建立了拉曼横向声学(TO)峰宽度与均值键角在a-Si中的扩散之间的近线性关系。这一关系常用于在实验中估计后者。在过去的十年中，对于a-Si样本网络的计算机生成取得了显著进展。利用这一进展，该文提供了更准确地确定TO峰宽度与角度扩散之间的关系，使用1000原子配置。也研究并量化了TO峰频率与横向声(TA)峰强度比的关系，两者都作为角度扩散的函数。随着扩散减小，TA/TO强度比减小，TO峰频率增加。这些关系提供了从拉曼测量获得a-Si结构信息的额外方法。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0005255,
title = {Relation between Raman spectra and Structure of Amorphous Silicon},
author = {R. L. C. Vink and G. T. Barkema and W. F. van der Weg},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0005255},
year = {2007}
}
备注
7 pages, 5 figures, submitted to PRB