含嵌入量子点的二维光子晶体纳米腔的反射率测量

通过光致发光和反射率测量了含有嵌入InAs量子点的二维光子晶体平板纳米腔的光谱。比较这两种不同方法获得的光谱，发现与纳米腔的谐振波长一致。此外，研究表明反射率方法可以同时测量有源和无源腔。利用交叉偏振反射率方法测量了谐振波长范围为1280至1620 nm的纳米腔的Q因子。实验上，Q因子随波长增加而减小，而纳米腔在谐振时反射的强度在1370 nm附近达到最小。Q因子的变化趋势可通过平板厚度相对于谐振波长的变化来解释，理论与实验吻合良好。纳米腔在谐振时反射强度的变化趋势可理解为源于PC平板和下方空气包层厚度的影响。除了三维时域有限差分计算外，还引入了一个解析模型，该模型能够再现实验中观察到的反射强度对波长的依赖性。