电学探测接触式缺陷纳米腔中的光子带隙现象
其他凝聚态物理
2009-11-13 v1
摘要
我们展示了一种包含 InAs 自组装量子点的电可调二维光子晶体纳米腔。结合光致发光和电致发光测量，探测了腔模结构并证实了与量子点的局部电接触。作为电场函数的测量使我们能够探测光子产生载流子在修饰光子环境中发射时的捕获、弛豫和复合动力学。此外，通过空间依赖的光电流光谱对二维光子晶体进行探测，表明光子晶体环境内量子点的局部辐射寿命增强了 3.5 倍。
引用
@article{arxiv.0709.2121,
title = {Electrically probing photonic bandgap phenomena in contacted defect nanocavities},
author = {F. Hofbauer and S. Grimminger and J. Angele and G. Böhm and R. Meyer and M. C. Amann and J. J. Finley},
journal= {arXiv preprint arXiv:0709.2121},
year = {2009}
}