半导体微腔中量子点Purcell因子的连续波测量与时间分辨测量对比
介观与纳米尺度物理
2015-05-13 v1
摘要
通过将单个量子点嵌入谐振半导体微腔中，可以显著增强其光发射速率。这种现象被称为Purcell效应，发射体与腔之间的耦合强度可通过Purcell因子量化。探测Purcell效应最自然的方法是时间分辨测量。然而，这种方法并非总是最方便的，基于连续波测量的替代方法通常更为合适。实际上，使用连续波测量可以观察到Purcell效应的多种特征（饱和量子点发射所需泵浦速率的增加、饱和时发射速率的增强、辐射图案的变化），这些特征在量子点与腔模共振时出现。所有这些观测结果都可能用于估算Purcell因子。在本文中，我们对柱形微腔中的单个量子点进行了这些不同类型的测量，并比较了它们的可靠性。在数据分析中，我们考虑了微腔环境中独立的非共振发射体的存在，这些发射体是部分观测到的荧光的来源。
引用
@article{arxiv.0906.0750,
title = {Continuous-wave versus time-resolved measurements of Purcell-factors for quantum dots in semiconductor microcavities},
author = {M. Munsch and A. Mosset and A. Auffèves and Signe Seidelin and J. P. Poizat and J. -M. Gérard and A. Lemaître and I. Sagnes and P. Senellart},
journal= {arXiv preprint arXiv:0906.0750},
year = {2015}
}