二维系统的径向次临变量与共形不变性

共形映射 $w=(L/2\pi)\ln z$ 将临界平面上的径向扰动 $\alpha\rho^{-y}$ 变换到宽度为 $L$ 的圆柱上，扰动值从均匀离临界点的偏离 $\alpha(2\pi/L)^y$。当扰动为次临变量时，可从已知的圆柱上均匀离临界系统行为中推导出扰动平面上的关联函数和缺陷指数。结果通过高斯模型的精确解得到支持。