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电子掺杂 Cuprate 中的量子临界点

超导电性 2007-05-23 v2

摘要

我们分析了最近通过高分辨率 ARPES 测量获得的 Nd2x_{2-x}Cex_xCuO4±δ_{4\pm\delta} (NCCO) 中掺杂相关的谱强度和费米面图,表明该电子掺杂化合物的行为可理解为 Mott(伪)间隙的闭合,导致其在最优掺杂上方出现一个量子临界点。通过比较理论与实验光谱,得到的有效 Hubbard UU 掺杂依赖性与各种估计值及简单筛选计算的结果一致。

关键词

引用

@article{arxiv.cond-mat/0201117,
  title  = {Quantum Critical Point in Electron-Doped Cuprates},
  author = {C. Kusko and R. S. Markiewicz and M. Lindroos and A. Bansil},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0201117},
  year   = {2007}
}

备注

12 pages, 6 figures