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量化基于GaAs:Cr传感器的混合像素探测器在透射电子显微镜中的性能

仪器与探测器 2021-06-11 v1 材料科学

摘要

混合像素探测器(HPDs)已被证明对透射电子显微镜中基于衍射和时间分辨的研究非常有效,但其性能受限于高能电子在其厚硅传感器中散射距离长这一事实。与单片有源像素传感器(MAPS)相比,HPDs的一个优势是其传感器无需由硅制成。我们使用能量范围为60–300keV的初级电子,比较了配备Si传感器和GaAs:Cr传感器的Medipix3 HPD的性能。我们描述了对探测器的调制传递函数(MTF)和探测量子效率(DQE)的测量与计算,结果表明对于高能电子,GaAs:Cr器件的性能明显优于Si器件。

关键词

引用

@article{arxiv.2009.14565,
  title  = {Quantifying the Performance of a Hybrid Pixel Detector with GaAs:Cr Sensor for Transmission Electron Microscopy},
  author = {Kirsty A. Paton and Matthew C. Veale and Xiaoke Mu and Christopher S. Allen and Dzmitry Maneuski and Christian Kübel and Val O'Shea and Angus I. Kirkland and Damien McGrouther},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2009.14565},
  year   = {2021}
}

备注

15 pages + references, 13 figures