基于 MiniPIX Timepix3 Flex 探测器表征 FLASH 电子束产生的杂散辐射
医学物理
2022-02-01 v1 仪器与探测器
摘要
本工作旨在利用混合半导体像素探测器表征超高剂量率脉冲（UHDpulse）电子束。采用 Timepix3（TPX3）ASIC 芯片测量 15 至 23 MeV 脉冲电子束次级辐射场的组成、空间、时间和能谱特征。挑战在于开发一种紧凑型单一探测器，能够提取此类高注量短脉冲场的能谱与剂量学信息。对于次级束测量，在电子束前放置 1 cm 和 8 cm 厚的 PMMA 板，脉冲持续时间为 3.5 微秒。将具有 100 和 500 微米厚硅传感器的 Timepix3 探测器置于平移台上，以便在相对于束轴的不同横向位置进行数据采集。探测器在 FLEXI 配置下的使用实现了合适的原位测量和最小自屏蔽。初步结果凸显了该技术与探测器测量短脉冲中电子束单个 UHDpulse 的能力。此外，每个像素双信号链的使用使得在混合辐射场中可估算距束芯不同距离处的粒子注量和散射剂量率（DRs）。
引用
@article{arxiv.2201.13171,
title = {Stray radiation produced in FLASH electron beams characterized by the MiniPIX Timepix3 Flex detector},
author = {C. Oancea and C. Bălan and J. Pivec and C. Granja and J. Jakubek and D. Chvatil and V. Olsansky and V. Chiş},
journal= {arXiv preprint arXiv:2201.13171},
year = {2022}
}
备注
This is the Accepted Manuscript version of an article accepted for publication in Journal of Instrumentation. Neither SISSA Medialab Srl nor IOP Publishing Ltd is responsible for any errors or omissions in this version of the manuscript or any version derived from it. The Version of Record is available online at https://doi.org/10.1088/1748-0221/17/01/C01003