利用共振 X 射线驻波技术探测极性-非极性氧化物界面

过渡金属（TM）氧化物异质结构超晶格因其体相中不存在的涌现界面现象而备受研究界关注。为理解导致这些现象的机制，使用具有深度分辨能力的谱学手段研究埋藏氧化物界面处的电子结构至关重要。本综述聚焦于驻波（SW）光电子能谱（SW-XPS）与共振非弹性 X 射线散射（SW-RIXS）谱学近期在极性-非极性氧化物界面附近电子结构或载流子深度分布研究中的应用。利用靠近 TM X 射线吸收共振的入射光子能量，所产生的 SW 激发可增强谱学响应及特定电子跃迁，从而在能量与实空间范畴提供对界面电子结构的重要洞察。在背景介绍之后，我们描述了两个 SW 实验，并表明 SW-XPS 与 SW-RIXS 的结合有潜力以埃级精度获取埋藏界面附近电子/轨道态的深度分布。