超晶格结构的深度分辨化学物种分析
材料科学
2017-11-01 v1
摘要
我们报道了同步 x 射线反射率和掠入射 x 射线荧光测量与 x 射线驻波辅助深度分辨近边 x 射线吸收测量相结合的结果，以揭示 W-B4C 超晶格结构中 W 的化学物种形成的新见解。有趣的是，我们的结果表明存在各种不寻常的电子态，特别是那些位于薄膜介质表面和界面边界的 W 原子，与块体相比。这些观察结果与使用第一性原理计算获得的结果一致。与常规 x 射线吸收测量不同，本方法具有优势，它允许以原子长度尺度分辨率确定薄层材料中元素的深度分辨化学性质。
引用
@article{arxiv.1705.04097,
title = {Depth resolved chemical speciation of a superlattice structure},
author = {Gangadhar Das and A. G. Karydas and Haranath Ghosh and M. Czyzycki and A. Migliori and A. K. Sinha and M. K. Tiwari},
journal= {arXiv preprint arXiv:1705.04097},
year = {2017}
}
备注
9 figures