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掠入射X射线吸收光谱揭示薄膜中深度依赖的局域结构

材料科学 2009-01-29 v1

作者: Narcizo M. Souza-Neto , Aline Y. Ramos , Helio C. N. Tolentino , Alessandro Martins , Antonio D. Santos

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摘要

提出了一种利用X射线吸收光谱（XAS）结合解析掠入射几何进行薄膜中原子、电子、化学或磁性局域结构深度剖析的方法。通过充分考虑散射和吸收两种形式，实现了对厚度依赖光谱特征的定量反卷积。以纳米FePt薄膜为例，确定了其表面氧化和局域结构深度分布，展示了该方法的应用。

关键词

掠入射X射线吸收光谱薄膜深度剖析局域结构表面氧化 FePt

引用

@article{arxiv.0901.4542,
  title  = {Depth dependent local structures in thin films unraveled by grazing incidence x-ray absorption spectroscopy},
  author = {Narcizo M. Souza-Neto and Aline Y. Ramos and Helio C. N. Tolentino and Alessandro Martins and Antonio D. Santos},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0901.4542},
  year   = {2009}
}

备注

5 pages, 3 figures