利用驻波光电子能谱研究氧化物界面的涌现现象
材料科学
2024-06-19 v1
摘要
过去二十年中，复杂氧化物界面的涌现现象因丰富的物理内涵以及创造新物质态和潜在器件新功能的广泛可能性，已成为一个活跃的研究领域。此类现象的电子结构表征面临独特挑战，因为缺乏直接且非破坏性的技术，能以所需的埃级分辨率并兼具元素与轨道特异性来探测埋藏层与界面。在本综述中，我们考察了若干近期研究，其中使用了一种相对新颖发展的技术——软 X 射线驻波光电子能谱，来研究展现金属—绝缘体转变、界面铁磁性及二维电子气等涌现现象的埋藏氧化物界面。同时也讨论了该方法的优势、挑战与未来应用。
引用
@article{arxiv.2110.14458,
title = {Emergent phenomena at oxide interfaces studied with standing-wave photoelectron spectroscopy},
author = {C. -T. Kuo and G. Conti and J. E. Rault and C. M. Schneider and S. Nemšák and A. X. Gray},
journal= {arXiv preprint arXiv:2110.14458},
year = {2024}
}