界面电荷转移与结构重排的 Operando X 射线表征
材料科学
2022-12-12 v1
摘要
能源转换与存储、传感及化学合成中的关键技术依赖于对带电固-液界面处电荷转移过程的详尽认知。然而，这些界面随外加电势、离子浓度和时间持续演化。因此我们需在操作条件下表征界面液体侧与固体侧的化学组成、原子排布及电子结构。在本章中，我们讨论用于此类“operando”表征的基于 X 射线的最先进光谱与衍射方法。我们强调文献中的近期实例，并展示 X 射线吸收光谱、X 射线光电子能谱与表面 X 射线衍射如何揭示所需的界面敏感信息。
引用
@article{arxiv.2212.04961,
title = {Operando X-ray characterization of interfacial charge transfer and structural rearrangements},
author = {Reshma R. Rao and Iris C. G. van den Bosch and Christoph Baeumer},
journal= {arXiv preprint arXiv:2212.04961},
year = {2022}
}