基于$A_4$模对称性的scoto-seesaw模型预言

本文的新颖之处在于引入一种植根于$A_4$离散模对称性的混合scoto-seesaw模型，其带来若干有趣的现象学含义。scoto-seesaw框架通过I型seesaw机制在树层级产生一个质量平方差$(\Delta m^2_{\rm atm})$。此外，scotogenic贡献在圈层级获得另一个质量平方差（$\Delta m^2 _{\rm sol}$）方面至关重要，从而清晰解释了两种不同的质量平方差。Yukawa耦合在$A_4$模对称性下的非平凡变换有助于以质量矩阵特定味结构来探索中微子现象学。除对中微子质量顺序、混合角与CP相位的预言外，该设定还对$\sum m_i$以及$|m_{ee}|$给出精确预言。特别地，模型预言$\sum m_i \in (0.073,0.097)$ eV且$\left| m_{ee}\right| \in (3.15,6.66)\times 10^{-3}$ eV范围；这在即将开展的实验可及范围内。此外，我们的模型在应对轻子味破坏（即$\ell_\alpha \to \ell_\beta \gamma$、$\ell_\alpha \to 3\ell_\beta$与$\mu - e$转换率）方面也颇具前景，同时处于当前实验限制之内。