氧插层赝电容 Pr$_2$MgZrO$_6$ 电极中的相变：结构与电导率联合分析
材料科学
2023-07-26 v1
摘要
通过晶体结构分析、拉曼光谱、交流导电谱、X 射线光电子能谱和电化学谱，研究了氧插层赝电容 PrMgZrO（PMM）的相变行为和电荷存储机制。晶体结构分析和振动研究揭示了 PMM 中遵循 14 到 87 到 225 序列的相变。高温拉曼光谱展示了 PMM 中单斜到四方相变的显著特征。交流导电谱显示了 PMM 中半导体到金属的过渡。Mn 2p 态的 X 射线光电子能谱证实了 PMM 在室温下存在氧空位。此外，评估了 PMM 作为电极的电化学性能。PMM 电极表现出插层赝电容特性，展现出 257.57 F 的最大可能比电容。对 PMM 电极的电荷存储过程进行了深入审查和讨论，揭示了潜在机制。
引用
@article{arxiv.2307.13623,
title = {Phase transition in oxygen-intercalated pseudocapacitor Pr$_2$MgZrO$_6$ electrode: A combined structural and conductivity analysis},
author = {Moumin Rudra and S. Saha and T. P. Sinha},
journal= {arXiv preprint arXiv:2307.13623},
year = {2023}
}
备注
26 Pages, 10 Figures, 3 Tables