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二维金属-绝缘体转变中混合相与逾渗的证据

强关联电子 2019-04-12 v3

摘要

硅MOSFET(金属-氧化物-半导体场效应晶体管)中强相互作用二维电子系统的面内磁电导在明确电子密度 nkn_k 处表现出无可置疑的扭折。nkn_k 处的扭折靠近但不在由电阻率测量确定的临界密度 ncn_c,且 nkn_k 出现的密度随温度变化。这些特征与量子相变的预期不一致。我们反而提出这是一个逾渗转变,并提出了基于混合绝缘与金属相形成的详细模型,其中金属-绝缘体转变通过逾渗发生。

关键词

引用

@article{arxiv.1811.04954,
  title  = {Evidence for mixed phases and percolation at the metal-insulator transition in two dimensions},
  author = {Shiqi Li and Qing Zhang and Pouyan Ghaemi and M. P. Sarachik},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1811.04954},
  year   = {2019}
}

备注

8 pages, 7 figures