使用印度商业制造GEM箔片构建的三重GEM探测器的性能
仪器与探测器
2020-02-21 v1 高能物理 - 实验
摘要
气体电子倍增器(GEM)探测器因其优异的空间分辨率、高计数率能力和设计灵活性而被用于各种应用。GEM探测器作为一种有前景的设备,可用于核与粒子物理实验。许多未来的实验和升级计划都希望使用该技术,导致对GEM箔片的高需求。迄今为止,CERN是唯一可靠的GEM箔片制造商和分销商,但随着技术转让,全球少数其他工业界已开始采用相同的光刻技术制造这些箔片。Micropack Pvt. Ltd.是印度这样一家企业,其生产了首批若干片 GEM箔片,随后分发给若干合作方,以在科学界接受这些箔片前测试其可靠性和性能。通过研究其光学和电学性质,已对三片此类箔片进行了表征。利用这些箔片构建了一个三重GEM探测器,并测量了多种性能特征。在本文中,我们具体报告利用德里大学现有的本地质量控制装置对增益、分辨率和响应均匀性进行的测量。
引用
@article{arxiv.1806.05016,
title = {Performance of the triple GEM detector built using commercially manufactured GEM foils in India},
author = {Mohit Gola and Aashaq Shah and Asar Ahmed and Shivali Malhotra and Ashok Kumar and Md. Naimuddin},
journal= {arXiv preprint arXiv:1806.05016},
year = {2020}
}
备注
15 pages, 16 figures