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PEN:轻子普适性的低能检验

高能物理 - 实验 2017-01-24 v1 高能物理 - 唯象学 核实验

摘要

允许的带电 π\pi 介子衰变以简单的动力学、少的可用衰变通道(主要是轻子)以及极好控制的辐射和圈修正为特征。从这个意义上说,π介子衰变代表了基本粒子与相互作用标准模型(SM)的真正胜利。这种相对的理论简单性使得带电π介子衰变成为检验底层对称性和弱费米子耦合普适性,以及研究π介子结构和手征动力学的敏感手段。即使经过近期相当多的改进,π介子衰变的实验精度仍远远落后于理论描述。我们回顾π介子电子衰变 π+e+νe(γ)\pi^+ \to e^+\nu_e(\gamma)(或 πe2(γ)\pi_{e2(\gamma)},其中 (γ)(\gamma) 表示包含并显式处理辐射衰变事件)的实验研究现状。我们简要回顾当前 πe2(γ)\pi_{e2(\gamma)} 衰变实验精度水平下产生的对非SM过程的限制。聚焦于瑞士保罗谢勒研究所(PSI)的PEN实验,我们审视近期进一步改进的前景。

关键词

引用

@article{arxiv.1701.05254,
  title  = {PEN: a low energy test of lepton universality},
  author = {D. Pocanic and L. P. Alonzi and V. A. Baranov and W. Bertl and M. Bychkov and Yu. M. Bystritsky and E. Frlez and C. J. Glaser and V. A. Kalinnikov and N. V. Khomutov and A. S. Korenchenko and S. M. Korenchenko and M. Korolija and T. Kozlowski and N. P. Kravchuk and N. A. Kuchinsky and M. C. Lehman and D. Mzhavia and A. Palladino and P. Robmann and A. M. Rozhdestvensky and I. Supek and P. Truoel and A. van der Schaaf and E. P. Velicheva and M. G. Vitz and V. P. Volnykh},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1701.05254},
  year   = {2017}
}

备注

11 pages, 5 figures; paper presented at the XIII International Conference on Heavy Quarks and Leptons, 22-27 May 2016, Blacksburg, Virginia, USA