AFM电学模式下图像获取与分析的特性
仪器与探测器
2020-12-15 v2
摘要
本文描述了在I-AFM模式下工作时，获取和解释样品表面电流分布图像的特性。研究表明，I-AFM和SCM模式仅可成功用于较小的扫描区域（不超过5×5平方微米），因为在扫描过程中，由于探针尖端的磨损，观察到探针尖端面积以及探针与样品表面之间接触面积的持续变化。同时，AFM的电学模式不宜推荐用于纳米物体的研究，因为在结果解释方面出现了一系列困难，这些困难由探针尖端的大曲率半径以及由此产生的大电接触表面积所引起。本文还展示了在I/V Spectroscopy模式下获取和解释样品表面各点CVC（电流-电压特性曲线）的特性。研究表明，由于在I-AFM模式下利用I/V Spectroscopy模式通过在样品表面感兴趣点（观察到形貌或表面电流不均匀处）获取CVC来附加研究表面实际上是不可行的，这是由于压电陶瓷的大温度漂移和迟滞。文中给出了改进该方法可行性的建议。
引用
@article{arxiv.2009.01386,
title = {Peculiarities of image acquirement and analysis in AFM electrical modes},
author = {Olga V. Sviridova},
journal= {arXiv preprint arXiv:2009.01386},
year = {2020}
}