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氧化物层形成阻止空气中工作时热电材料 Cu$_2$Se 中恶化的离子迁移

材料科学 2023-08-08 v1

摘要

Cu2_2Se 是一种混合离子-电子导体,具有出色的热电性能,最初设想用于太空任务。由于材料不稳定性,其应用曾被迫中止,即在真空工作时元素 Cu 会在电极界面处生长。本文表明,当 Cu2_2Se 在空气中工作时,氧化物表面层的形成抑制了 Cu+^+ 沿电流方向的迁移。通过原位 X 射线散射和电阻率测量,借助原子占位精修与物相组成分析,对 Cu+^+ 迁移进行了量化。若热梯度沿电流方向施加,则无论临界电压如何,在空气中工作时均可防止 Cu 沉积。最大熵电子密度分析提供了实验证据,表明在热梯度和电梯度下 Cu+^+ 迁移路径与平衡扩散有显著差异。该研究为廉价可持续的 Cu2_2Se 在热电应用中的使用带来了新的希望,并强调了在热电工作条件下对材料进行原子尺度洞察的重要性。

关键词

引用

@article{arxiv.2308.03559,
  title  = {Oxide layer formation prevents deteriorating ion migration in thermoelectric Cu$_2$Se during operation in air},
  author = {Rasmus S. Christensen and Peter S. Thorup and Lasse R. Jørgensen and Martin Roelsgaard and Karl F. F. Fischer and Ann-Christin Dippel and Bo Brummerstedt Iversen},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2308.03559},
  year   = {2023}
}