后 CMOS 器件概述及其基准测试的统一方法
介观与纳米尺度物理
2013-02-04 v1
摘要
纳米电子研究计划 (NRI) 目前正在研究多种逻辑器件，以推动集成电路的发展超越 CMOS 路线图。本文描述了这些器件的结构和工作原理。概述了用于基准测试这些器件的理论，并描述了一种用于一致估算电路面积、开关时间和能量的通用方法。展示了使用这些基准对 NRI 逻辑器件进行比较的结果。
引用
@article{arxiv.1302.0244,
title = {Overview of Beyond-CMOS Devices and A Uniform Methodology for Their Benchmarking},
author = {Dmitri E. Nikonov and Ian A. Young},
journal= {arXiv preprint arXiv:1302.0244},
year = {2013}
}
备注
91 pages, 67 figures, 11 tables. Related to the conference presentation D. Nikonov and I. Young, Uniform Methodology for Benchmarking Beyond-CMOS Logic Devices, Proceedings of IEDM, 25.4 (2012)