耦合混沌振荡器去同步状态内部转变的起源

我们研究了耦合混沌振荡器中通过相位跳跃发生的去同步状态内部转变的起源。我们声称,该转变由存在噪声时的 I 型间歇性控制,其特征关系为:当 $\epsilon_t -\epsilon <0$ 时,$<l > \propto \exp(\alpha|\epsilon_t -\epsilon|^{3/2})$;当 $\epsilon_t -\epsilon >0$ 时,$<l > \propto (\epsilon_t -\epsilon)^{-1/2}$,其中 $<l>$ 是相位锁定状态的平均长度,$\epsilon$ 是耦合强度。为了证明我们的主张,我们解析地获得了切点、分岔点和返回映射,它们与数值模拟的结果非常吻合。