电子显微镜中成键电荷密度直接成像的优化条件
材料科学
2010-11-11 v2
摘要
我们报道了在矿物镁橄榄石(Mg2SiO4)沿[010]投影的像差校正高分辨率电子显微镜(HREM)图像中价键效应的可观测性。我们还使用含噪声的模拟图像进行了出射波重构，并确定对于20-25 nm的中等厚度样品，单幅图像的强度与重构复出射波的模对成键效应最为敏感，灵敏度水平达25%。这种相对较大的厚度归因于1s态的部分退通道引起的成键衬度的动力学放大。
引用
@article{arxiv.1008.4291,
title = {Optimized conditions for direct imaging of bonding charge density in electron microscopy},
author = {James Ciston and Sarah J. Haigh and Judy S. Kim and Angus I. Kirkland and Laurence D. Marks},
journal= {arXiv preprint arXiv:1008.4291},
year = {2010}
}
备注
31 pages, including 13 figures