氧化物薄膜中材料转变的光学识别
材料科学
2020-08-17 v1 仪器与探测器
摘要
组合研究中的高通量实验近期进展加速了在广泛成分与合成条件下材料的发现与分析。然而，许多更强大的表征方法受限于速度、成本、可用性和/或分辨率。为高效利用这些方法，开发识别关键成分与条件的方法具有价值，可作为使用高精度技术（如微米级同步辐射 X 射线衍射（XRD））进行后续表征的先验知识。在此我们展示了利用光学显微镜与反射光谱识别薄膜材料库中可能的相变边界。这些方法用于描绘氧化物材料经横向梯度激光尖峰退火（lg-LSA）后可能的亚稳相边界。随后将该边界集合与利用高分辨率 XRD 获得的 structural transformations 的确定性判定进行比较。我们证明，光学方法在成分梯度 La-Mn-O 材料库和 GaO 样品中检测到了超过 95% 的结构转变，二者均经历了大量 lg-LSA 退火处理。我们的结果为光学检测转变作为指导后续结构表征的先验数据的价值提供了定量支持，最终加速并提升了 m 分辨率 XRD 实验的高效实施。
引用
@article{arxiv.2008.06419,
title = {Optical Identification of Materials Transformations in Oxide Thin Films},
author = {Duncan R. Sutherland and Aine Boyer Connolly and Maximilian Amsler and Ming-Chiang Chang and Katie Rose Gann and Vidit Gupta and Sebastian Ament and Dan Guevarra and John M. Gregoire and Carla P. Gomes and R. B. van Dover and Michael O. Thompson},
journal= {arXiv preprint arXiv:2008.06419},
year = {2020}
}