论射电干涉定标解的方差：基于质量的加权方案

本文研究利用一种受光学方法“幸运成像”启发的算法来改善射电干涉图像的可能性，该算法对用于生成给定图像的最佳定标可见度赋予更大权重。本文推导了干涉定标解残差统计量与图像平面像素统计量之间的基本关系。该关系使我们能够理解并描述残差图像的统计性质。在此框架下，噪声图可描述为残差可见度在新微分傅里叶平面中协方差的傅里叶变换。图像平面伪影可视为像素协方差分布的一个实现，而该分布可由天线增益统计估计。基于此关系，我们提出了一种利用加权方案改善由定标可见度所生成图像的方法。这种改善发生在定标之后、成像之前，因而理想地用于自定标循环的主要迭代之间。将加权方案应用于模拟数据，以可忽略的计算代价降低了最终图像的噪声水平。