自举重采样作为射电干涉成像保真度评估工具的进一步评估

我们报告了对统计自举重采样方法作为射电干涉测量中像素级校准和成像保真度评估工具的更广泛评估。像素级成像保真度评估是一个具有挑战性的问题，其重要性在于：它对干涉图像的科学稳健解读具有价值，对增强自动化流水线处理系统（以扩大这些仪器的用户群体）至关重要，并且有助于理解未来望远镜（如平方公里阵列）所面临的尖端方向依赖校准和成像挑战。这种新的计算方法之所以成为可能，得益于针对长程依赖数据的统计重采样技术的进步以及当代高性能计算资源的可用性能。我们将先前的数值评估扩展到涵盖模拟图像保真度和源亮度分布形态的更广泛领域子集。与之前一样，我们评估了自举重采样方法相对于直接蒙特卡洛模拟的统计性能。我们发现，在更广泛的领域子集上进行评估时，基于模型和子样本的自举方法在解决干涉成像保真度评估这一挑战性问题方面仍然显示出巨大潜力。我们报告了它们的测量统计性能以及在实际中应用和使用的指南。我们还研究了本研究中使用的底层偏振自校准算法在一系列视差角覆盖范围内的性能。