关于具有常数值对角元素的散射矩阵子空间迁移在微波成像中的应用
数值分析
2025-10-13 v1 数值分析
摘要
我们考虑应用子空间迁移 (SM) 算法在微波成像中快速识别小物体。在各种问题中，如果发射机和接收机的位置相同，则很容易测量散射矩阵的对角元素。为了解决这个问题，已有几项研究通过将对角元素设为零来进行处理。在本文中，我们通过将散射矩阵的对角元素设为常数并应用 SM 来推广成像问题。为了展示 SM 的适用性及其对常数的依赖性，我们表明 SM 的成像函数可以表示为整数阶贝塞尔函数、天线数量和排列以及所应用常数的无穷级数。这一结果使我们能够发现一些进一步的性质，包括物体的唯一确定性。我们还展示了使用合成数据的模拟结果以支持理论结果。
引用
@article{arxiv.2402.13565,
title = {On the application of subspace migration from scattering matrix with constant-valued diagonal elements in microwave imaging},
author = {Won-Kwang Park},
journal= {arXiv preprint arXiv:2402.13565},
year = {2025}
}
备注
20 pages, 12 figures