关于存储器地址译码器中BTI老化恢复的研究
硬件体系结构
2022-12-20 v1
摘要
存储器设计需要时序余量来补偿老化和制造工艺变化。随着技术微缩，老化机制变得更加明显，因此被认为需要更大的余量。这反过来意味着更大的面积需求和更低的存储器性能。偏压温度不稳定性（BTI）是导致老化的主要因素之一，它会减慢晶体管速度并最终导致永久性故障。在本文中，我们首先提出了一种低成本的老化缓解方案，该方案可应用于现有硬件，以缓解存储器地址译码器逻辑上的老化。我们通过对存储器施加恢复性工作负载来缓解关键晶体管上的BTI效应。这种辅助工作负载会定期执行，以恢复位于地址译码器关键路径上的晶体管。其次，我们分析了工作负载的效率以优化缓解方案。使用实际基准测试进行的实验结果表明，该方案能以可忽略的执行开销实现数倍的寿命延长。
引用
@article{arxiv.2212.09356,
title = {On BTI Aging Rejuvenation in Memory Address Decoders},
author = {Cemil Cem Gursoy and Daniel Kraak and Foisal Ahmed and Mottaqiallah Taouil and Maksim Jenihhin and Said Hamdioui},
journal= {arXiv preprint arXiv:2212.09356},
year = {2022}
}
备注
2022 IEEE 23rd Latin American Test Symposium (LATS)