嵌入式系统老化检测与监测技术综述
硬件体系结构
2025-04-21 v2 系统与控制
系统与控制
摘要
嵌入式数字设备正越来越多地被部署在可靠或安全关键系统中。这些设备会经历显著的硬件老化，尤其是在恶劣环境中。这增加了它们发生故障的可能性。了解老化过程并及早检测硬件退化对于保证系统可靠性至关重要。在这项调查中，我们回顾了核心的老化机制，识别并分类了嵌入式系统中普遍存在的商用现货（COTS）组件的老化检测与监测技术的一般工作原理：现场可编程门阵列（FPGA）、微控制器、片上系统及其电源。从我们的回顾中发现，在线技术在 FPGA 上的应用比在其他组件上更为广泛，并且看到了机器学习在分析硬件老化方面的应用呈上升趋势。基于所回顾的文献，我们确定了该领域的研究机遇和潜在感兴趣的方向。通过这项工作，我们旨在以简洁的方式系统地呈现所有主要方法，从而促进未来的研究。
引用
@article{arxiv.2301.06804,
title = {A Review of Techniques for Ageing Detection and Monitoring on Embedded Systems},
author = {Leandro Lanzieri and Gianluca Martino and Goerschwin Fey and Holger Schlarb and Thomas C. Schmidt and Matthias Wählisch},
journal= {arXiv preprint arXiv:2301.06804},
year = {2025}
}