老化监测器与重配置技术综述
硬件体系结构
2020-07-16 v1
摘要
CMOS技术缩放使得老化效应成为集成电路设计与制造的重要关切。老化退化缩短了电路的使用寿命，使其更早失效。这种退化可影响电路的各个部分，并影响其性能与可靠性。当代文献展示了利用硬件与软件监测机制以及重配置技术来监测并缓解老化的解决方案。本前沿综述旨在识别现有的老化监测与重配置解决方案。本综述评估了2012至2019年间的老化研究，并提出了监测器与重配置技术的分类。结果表明，用于老化检测的最常见监测器类型是监测时序错误，而用于处理老化的最常见重配置技术是电压缩放。此外，多数文献贡献位于数字领域，采用硬件方案监测电路老化。模拟领域的文献贡献较少，本综述范围限于数字域。通过审视这些方案，本综述指出了老化监测器与重配置技术进一步研究的方向。
引用
@article{arxiv.2007.07829,
title = {A Survey of Aging Monitors and Reconfiguration Techniques},
author = {Leonardo Rezende Juracy and Matheus Trevisan Moreira and Alexandre de Morais Amory and Fernando Gehm Moraes},
journal= {arXiv preprint arXiv:2007.07829},
year = {2020}
}
备注
19 pages, 65 references, 7 tables, 5 figures