老化应力对NBTI退化的影响
其他计算机科学
2015-10-07 v1
摘要
Burn-in（老化）被公认是一种以加速方式评估老化效应的方法。已有研究表明，老化应力可能对亚阈值CMOS电路的负偏压温度不稳定性(NBTI)产生显著影响。本文在数模转换器(DAC)电路的背景下分析老化对NBTI的影响。模拟电路需要匹配的器件对；NBTI可能导致失配并因此引起电路失效。仿真分析中观测到的NBTI退化表明，在严苛应力条件下，DAC中可能出现超出2 mV设计规格限制的显著阈值电压失配。实验结果证实了DAC电路设计对由老化引起的NBTI的敏感性。
引用
@article{arxiv.1510.01370,
title = {Implications of Burn-In Stress on NBTI Degradation},
author = {Mohd Azman Abdul Latif and Noohul Basheer Zain Ali and Fawnizu Azmadi Hussin and Mark Zwolinski},
journal= {arXiv preprint arXiv:1510.01370},
year = {2015}
}