在 $Ge(Bi_{x}Sb_{1-x})_{2}Te_{4}$ 中观测到平滑可调的狄拉克点
材料科学
2024-06-04 v3 介观与纳米尺度物理
摘要
最先进的拓扑器件需要利用拓扑表面态来驱动电子输运。在本研究中，我们考察了一种可调拓扑体系 ，其 'x' 取值范围为 0 到 1，综合使用了傅里叶变换扫描隧道谱（FT-STS）和角分辨光电子能谱（ARPES）。我们的结果表明，狄拉克点随 'x' 线性移动，在 x ≈ 0.7 附近穿过费米能级。这一关于平滑可调、孤立狄拉克点穿过拓扑输运区间且与替代具有强线性依赖关系的全新观测，对未来拓扑自旋电子学应用至关重要。
引用
@article{arxiv.2101.05166,
title = {Observation of a Smoothly Tunable Dirac Point in $Ge(Bi_{x}Sb_{1-x})_{2}Te_{4}$},
author = {Sean Howard and Arjun Raghavan and Davide Iaia and Caizhi Xu and David Flötotto and Man-Hong Wong and Sung-Kwan Mo and Bahadur Singh and Raman Sankar and Hsin Lin and Tai-Chang Chiang and Vidya Madhavan},
journal= {arXiv preprint arXiv:2101.05166},
year = {2024}
}
备注
18 Pages, 9 Figures, including Appendix