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单电子发射器的噪声与计数统计:理论

介观与纳米尺度物理 2011-02-14 v1

摘要

我们回顾了在理解一种称为介观电容器的相干单电子发射器的基本噪声特性方面的最新进展。该系统由一个亚微米腔组成,该腔通过量子点接触连接到二维电子气。当受到周期性栅极电压调制时,介观电容器以千兆赫兹频率吸收和重新发射单电子,这已在实验中得到证实。此外,最近的高频噪声测量已经能够精确表征该器件在不同工作状态下的特性。在此,我们讨论介观电容器中基本电荷转移过程的简单模型,并展示该模型如何完全再现测量的高频噪声谱。我们将分析扩展到多个周期内发射电子的计数统计,并以此讨论介观电容器作为单电子源的准确性。最后,我们考虑了介观电容器在未来实验中的可能应用,并为进一步的理论研究确定了新的途径。

关键词

引用

@article{arxiv.1102.2343,
  title  = {Noise and Counting Statistics of a Single Electron Emitter: Theory},
  author = {Mathias Albert and Christian Flindt and Markus Büttiker},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1102.2343},
  year   = {2011}
}

备注

6 pages, 6 figures, Invited contribution to ICNF 2011, Toronto, Canada, June, 2011