基于边界测量的完美导电裂纹多频成像
数学物理
2013-02-13 v1 math.MP
摘要
研究了利用边界数据对二维均匀介质中完美导电裂纹的成像问题。基于多静态响应（MSR）矩阵的奇异结构（其元素在多个频率下通过适当的测试函数进行归一化），引入并分析了一种成像泛函。提出了一种非迭代成像程序。来自含噪合成数据的数值实验表明，能够获得可接受的单裂纹和多裂纹图像。
引用
@article{arxiv.1207.1812,
title = {Multi-frequency imaging of perfectly conducting cracks via boundary measurements},
author = {Won-Kwang Park and Dominique Lesselier},
journal= {arXiv preprint arXiv:1207.1812},
year = {2013}
}
备注
4 pages, 3 figures