铁电薄膜性质厚度依赖性的建模
材料科学
2007-10-08 v2
摘要
我们提出了一种分离应变模型，用于描述铁电薄膜介电性质的厚度依赖性。采用唯象朗道方法，我们给出了两种特定材料的结果，并在可能的情况下与实验及第一性原理计算进行比较。我们还提出了一种"确凿证据"台式探针来验证我们的弹性机制。
引用
@article{arxiv.0704.2752,
title = {Modelling Thickness-Dependence of Ferroelectric Thin Film Properties},
author = {L. Palova and P. Chandra and K. M. Rabe},
journal= {arXiv preprint arXiv:0704.2752},
year = {2007}
}
备注
13 pages, 17 figures