铁电体 coercive 场的厚度依赖性
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
四十年来，铁电体开关的研究者一直使用 Kay-Dunn 理论来建模 coercive 场的厚度依赖性；尽管该理论基于均匀核生核和小场展开，而这两种现象在薄膜中并未实现，但该模型仍然运行得很好。本文表明，这一结果可从更一般的 Kolmogorov-Avrami 模型中获得，后者涉及(非均匀)核生核和生长。通过包含跨越介电材料中 switching field 的修正，并考虑金属电极中的 Thomas-Fermi 屏蔽，我们显示该理论在 PZT、硝酸钾和聚氯乙烯 [PVDF] 等几组铁电体的厚度（跨越 5 个数量级）上的 coercive 场定量描述为。特别是在 PVDF 情况下，这一一致性尤其令人满意，因为它表明开关动力学在降至 1 纳米尺度时仍受域壁限制，从而无需引入新现象。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0206014,
title = {Thickness-Dependence of the Coercive Field in Ferroelectrics},
author = {P. Chandra and M. Dawber and P. B. Littlewood and J. F. Scott},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0206014},
year = {2007}
}