薄膜矫顽力的晶粒结构依赖性
计算物理
2016-12-16 v3 介观与纳米尺度物理
摘要
我们利用有限元模拟研究了尺寸为 200nm x 1200nm x 5nm 的矩形纳米晶薄膜的矫顽场随晶粒尺寸 D 的变化关系。为此，我们建立了晶粒尺寸从 5nm 到 60nm 不等的颗粒有限元模型，并分别沿 y 轴（易磁化方向）和 x 轴（难磁化方向）进行了微磁滞回线计算。随后，我们使用扩展的随机各向异性模型解释了结果，并阐明了薄膜中随机各向异性与形状诱导各向异性（在更大尺度上具有一致性）之间的相互作用。
引用
@article{arxiv.1610.03630,
title = {Grain structure dependence of coercivity in thin films},
author = {Anton Bachleitner-Hofmann and Bernhard Bergmair and Thomas Schrefl and Armin Satz and Dieter Suess},
journal= {arXiv preprint arXiv:1610.03630},
year = {2016}
}
备注
6 pages, 10 figures