生长在Si衬底上的Co2FeAl薄膜的磁性和结构性质
材料科学
2014-07-30 v1
摘要
研究了不同厚度(10 nm<d<100 nm)的Co_{2}FeAl (CFA)薄膜在室温下生长于MgO缓冲的Si/SiO2衬底上并在600°C退火后的磁性与结构性质之间的关联。XRD测量显示薄膜具有(011)面外织构生长。推导出的晶格参数随薄膜厚度增加。此外，极图显示没有面内择优生长取向。磁光克尔效应磁滞回线显示存在弱的面内单轴各向异性，易轴方向随机。沿易轴方向施加外场测量的矫顽场和单轴各向异性场随CFA厚度的倒数线性增加。面内和垂直外加磁场的微带线铁磁共振测量表明，有效磁化强度和面内单轴各向异性场随CFA厚度的倒数线性变化。由此推导出垂直表面各向异性系数为-1.86 erg/cm²。
引用
@article{arxiv.1403.7566,
title = {Magnetic and structural properties of Co2FeAl thin films grown on Si substrate},
author = {M. Belmeguenai and H. Tuzcuoglu and M. S. Gabor and T. Petrisor and C. Tuisan and D. Berling and F. Zighem and S. M. Chérif},
journal= {arXiv preprint arXiv:1403.7566},
year = {2014}
}
备注
5 pages, 4 figures, submitted to J. Mag. Mag. Mat