用于任意形状 tip 的电场敏感扫描探针测量的建模
介观与纳米尺度物理
2007-05-23 v2 材料科学
摘要
我们提出了一种数值方法，用于建模电场敏感扫描探针显微镜测量，允许 tip 采用任意形状，并利用镜像电荷精确地考虑样品介电覆盖层。该方法应用于计算亚表面电荷积聚成像系统的空间分辨率，结果与实验结果具有相当好的一致性。
引用
@article{arxiv.cond-mat/0309667,
title = {Modeling electric field sensitive scanning probe measurements for a tip of arbitrary shape},
author = {I. Kuljanishvili and Subhasish Chakraborty and I . J. Maasilta and S. H. Tessmer and M. R. Melloch},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0309667},
year = {2007}
}
备注
5 pages, 3 figures