基于孔径的扫描近场光学显微镜中的成像特性与逆成像问题
光学
2016-01-08 v5
摘要
基于孔径的扫描近场光学显微镜是研究纳米尺度光以及理解光子纳米结构光学功能的重要仪器。一般而言，探测到的图像同时受到光的横向电场和磁场分量的影响。区分各个场分量具有挑战性，因为在偏振分辨测量中，这四个场分量包含在两个信号内。在此，我们开发了一种方法论来解决逆成像问题，并从偏振和相位分辨测量中检索矢量场分量。我们的方法论基于对基于孔径的扫描近场光学显微镜中成像过程的讨论。在此基础上，我们还能够解释探测图像中电场和磁场分量的相对贡献如何依赖于探针几何形状、其材料组成以及照明波长。这使得设计主要对光的电场或磁场分量敏感的探针成为可能。
引用
@article{arxiv.1411.4251,
title = {Image formation properties and inverse imaging problem in aperture based scanning near field optical microscopy},
author = {S. Schmidt and A. E. Klein and T. Paul and H. Gross and S. Diziain and M. Steinert and A. C. Assafrao and T. Pertsch and H. P. Urbach and C. Rockstuhl},
journal= {arXiv preprint arXiv:1411.4251},
year = {2016}
}