二维系统中回旋弛豫时间的金属行为

Ryuichi Masutomi; Kohei Sasaki; Ippei Yasuda; Akihito Sekine; Kentarou Sawano; Yasuhiro Shiraki; Tohru Okamoto

doi:10.1103/PhysRevLett.106.196404

二维系统中回旋弛豫时间的金属行为

介观与纳米尺度物理 2015-05-28 v1

作者: Ryuichi Masutomi , Kohei Sasaki , Ippei Yasuda , Akihito Sekine , Kentarou Sawano , Yasuhiro Shiraki , Tohru Okamoto

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摘要

本文在低至0.4 K的低温下，研究了高迁移率Si/SiGe量子阱中二维电子的回旋共振，该量子阱的直流电阻率 $\rho$ 表现出金属性的温度依赖关系。弛豫时间 $\tau_{\rm CR}$ 显示出负的温度依赖关系，这与从 $\rho$ 得到的输运散射时间 $\tau_t$ 的温度依赖关系相似。在0.4 K时，比值 $\tau_{\rm CR}/\tau_t$ 随着电子密度 $N_s$ 的减小而增大，当 $N_s$ 接近金属-绝缘体转变的临界密度时，该比值超过1。

关键词

回旋共振弛豫时间二维电子系统 Si/SiGe量子阱金属-绝缘体转变输运散射时间

引用

@article{arxiv.1105.4778,
  title  = {Metallic Behavior of Cyclotron Relaxation Time in Two-Dimensional Systems},
  author = {Ryuichi Masutomi and Kohei Sasaki and Ippei Yasuda and Akihito Sekine and Kentarou Sawano and Yasuhiro Shiraki and Tohru Okamoto},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1105.4778},
  year   = {2015}
}

备注

4 pages, 3 figures

二维系统中回旋弛豫时间的金属行为

摘要

关键词

引用

备注

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